走査型プローブ顕微鏡システム（SPM）

用途

固体試料および薄膜試料表面のミクロ・ナノ観察

連絡先

技術的な内容、より詳細な装置情報、使用状況などのご質問・ご依頼・ご予約などお受け致します。
初めてご利用される方は、お手数ですが下記の担当者にe-mailでご連絡下さい。
担当者が折り返しご連絡致します。

担当者
藤野正家：fujino
齋藤雅和：msaitoh

上の文字列に「@chem.gunma-ct.ac.jp」を追加してください。

詳細な説明等

走査型プローブの針を用いて、試料表面の凹凸や硬さが異なる材料の分布などをミクロ・ナノスケールで観察できます。
特殊なプローブの針を使用することで、特定の部分を観察しやすくすることが可能になります。
アジレント・テクノロジー社　5500